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上海多芯MT-FA光组件三维芯片互连技术 服务至上 上海光织科技供应

上传时间:2025-11-16 浏览次数:
文章摘要:该技术对材料的选择极为苛刻,例如MT插芯需采用低损耗的陶瓷或玻璃材质,而粘接胶水需同时满足光透过率、热膨胀系数匹配以及耐85℃/85%RH高温高湿测试的要求。实际应用中,三维耦合技术已成功应用于400G/800G光模块的并行传输场

该技术对材料的选择极为苛刻,例如MT插芯需采用低损耗的陶瓷或玻璃材质,而粘接胶水需同时满足光透过率、热膨胀系数匹配以及耐85℃/85%RH高温高湿测试的要求。实际应用中,三维耦合技术已成功应用于400G/800G光模块的并行传输场景,其高集成度特性使单模块体积缩小40%,布线复杂度降低60%,为数据中心的大规模部署提供了关键支撑。随着CPO(共封装光学)技术的兴起,三维耦合技术将进一步向芯片级集成演进,通过将MT-FA与光引擎直接集成在硅基衬底上,实现光信号从光纤到芯片的零距离传输,推动光通信系统向更高速率、更低功耗的方向突破。三维光子互连芯片具备良好的垂直互连能力,有效缩短了信号传输路径,降低了传输延迟。上海多芯MT-FA光组件三维芯片互连技术

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多芯MT-FA光传输技术作为三维光子芯片的重要接口,其性能突破直接决定了光通信系统的能效与可靠性。多芯MT-FA通过将多根光纤精确排列在V形槽基片上,结合42.5°端面全反射设计,实现了单芯片80通道的光信号并行收发能力。这种设计不仅将传统二维光模块的通道密度提升了10倍以上,更通过垂直耦合架构大幅缩短了光路传输距离,使发射器单元的能耗降至50fJ/bit,接收器单元的能耗降至70fJ/bit,较早期系统降低超过60%。在技术实现层面,多芯MT-FA的制造涉及亚微米级精度控制:V形槽的pitch公差需控制在±0.5μm以内,光纤凸出量需精确至0.2mm,同时需通过铜柱凸点键合工艺实现光子芯片与电子芯片的2304点阵列高密度互连。上海三维光子集成多芯MT-FA光传输组件三维光子互连芯片‌通过其独特的三维架构,‌明显提高了数据传输的密度,‌为高速计算提供了基础。

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高性能多芯MT-FA光组件的三维集成方案通过突破传统二维平面布局的物理限制,实现了光信号传输密度与系统可靠性的双重提升。该方案以多芯光纤阵列(Multi-FiberTerminationFiberArray)为重要载体,通过精密研磨工艺将光纤端面加工成特定角度,结合低损耗MT插芯实现端面全反射,使多路光信号在毫米级空间内完成并行传输。与传统二维布局相比,三维集成技术通过层间耦合器将不同波导层的光信号进行垂直互联,例如采用倏逝波耦合器或3D波导耦合器实现层间光场的高效转换,明显提升了单位面积内的通道数量。实验数据显示,采用三维堆叠技术的MT-FA组件可在800G光模块中实现12通道并行传输,通道间距压缩至0.25mm,较传统方案提升40%的集成度。同时,通过飞秒激光直写技术对玻璃基板进行三维微纳加工,可精确控制V槽(V-Groove)的深度与角度公差,确保多芯光纤的定位精度优于±0.5μm,从而降低插入损耗至0.2dB以下,满足AI算力集群对长距离、高负荷数据传输的稳定性要求。

多芯MT-FA光接口作为高速光模块的关键组件,正与三维光子芯片形成技术协同效应。MT-FA通过精密研磨工艺将光纤阵列端面加工为特定角度(如8°、42.5°),结合低损耗MT插芯实现多路光信号的并行传输。在400G/800G/1.6T光模块中,MT-FA的通道均匀性(插入损耗≤0.5dB)与高回波损耗(≥50dB)特性,可确保光信号在高速传输中的稳定性,尤其适用于AI算力集群对数据传输低时延、高可靠性的需求。其紧凑结构设计(如128通道MT-FA尺寸可压缩至15×22×2mm)与定制化能力(支持端面角度、通道数量调整),进一步适配了三维光子芯片对高密度光接口的需求。例如,在CPO(共封装光学)架构中,MT-FA可作为光引擎与芯片的桥梁,通过多芯并行连接降低布线复杂度,同时其低插损特性可弥补硅光集成过程中的耦合损耗。随着1.6T光模块市场规模预计在2027年突破12亿美元,MT-FA与三维光子芯片的融合将加速光通信系统向芯片级光互连演进,为数据中心、6G通信及智能遥感等领域提供重要支撑。三维光子互连芯片通过先进镀膜工艺,增强光学元件的稳定性与耐用性。

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三维光子集成工艺对多芯MT-FA的制造精度提出了严苛要求,其重要挑战在于多物理场耦合下的工艺稳定性控制。在光纤阵列制备环节,需采用DISCO高精度切割机实现V槽边缘粗糙度小于50nm,配合精工Core-pitch检测仪将通道间距误差控制在±0.3μm以内。端面研磨工艺则需通过多段式抛光技术,使42.5°反射镜面的曲率半径偏差不超过0.5%,同时保持光纤凸出量一致性在±0.1μm范围内。在三维集成阶段,层间对准精度需达到亚微米级,这依赖于飞秒激光直写技术对耦合界面的精确修饰。通过优化光栅耦合器的周期参数,可使层间传输损耗降低至0.05dB/界面,配合低温共烧陶瓷中介层实现热膨胀系数匹配,确保在-40℃至85℃工作温度范围内耦合效率波动小于5%。实际测试数据显示,采用该工艺的12通道MT-FA组件在800Gbps速率下,连续工作72小时的误码率始终维持在10^-15量级,充分验证了三维集成工艺在高速光通信场景中的可靠性。这种技术演进不仅推动了光模块向1.6T及以上速率迈进,更为6G光子网络、量子通信等前沿领域提供了可扩展的集成平台。科研团队突破关键技术,使三维光子互连芯片成本逐步向商用化目标靠近。上海多芯MT-FA光组件三维芯片互连技术

研究发现,三维光子互连芯片在高频信号传输方面较传统芯片更具优势。上海多芯MT-FA光组件三维芯片互连技术

三维集成对高密度多芯MT-FA光组件的赋能体现在制造工艺与系统性能的双重革新。在工艺层面,采用硅通孔(TSV)技术实现光路层与电路层的垂直互连,通过铜柱填充与绝缘层钝化工艺,将层间信号传输速率提升至10Gbps/μm²,较传统引线键合技术提高8倍。在系统层面,三维集成允许将光放大器、波分复用器等有源器件与MT-FA无源组件集成于同一封装体内,形成光子集成电路(PIC)。例如,在1.6T光模块设计中,通过三维堆叠将8通道MT-FA与硅光调制器阵列垂直集成,使光耦合损耗从3dB降至0.8dB,系统误码率(BER)优化至10⁻¹⁵量级。这种立体化架构还支持动态重构功能,可通过软件定义调整光通道分配,使光模块能适配从100G到1.6T的多种速率场景。随着CPO(共封装光学)技术的演进,三维集成MT-FA芯片正成为实现光子与电子深度融合的重要载体,其每瓦特算力传输成本较传统方案降低55%,为未来10Tbps级光互连提供了技术储备。上海多芯MT-FA光组件三维芯片互连技术

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