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上海基于多芯MT-FA的三维光子互连方案 来电咨询 上海光织科技供应

上传时间:2025-09-28 浏览次数:
文章摘要:光子集成电路(PhotonicIntegratedCircuits,PICs)是将多个光子元件集成在一个芯片上的技术。三维设计在此领域的应用,使得研究人员能够在单个芯片上构建多层光路网络,明显提升了集成密度和功能复杂性。例如,采用

光子集成电路(Photonic Integrated Circuits, PICs)是将多个光子元件集成在一个芯片上的技术。三维设计在此领域的应用,使得研究人员能够在单个芯片上构建多层光路网络,明显提升了集成密度和功能复杂性。例如,采用三维集成技术制造的硅基光子芯片,可以在极小的面积内集成数百个光子元件,极大地提高了数据处理能力。在光纤通讯系统中,三维设计可以帮助优化信号转换节点的设计。通过使用三维封装技术,可以将激光器、探测器以及其他无源元件紧密集成在一起,减少信号延迟并提高系统的整体效率。三维光子互连芯片通过立体布线设计,明显缩小芯片整体体积与占用空间。上海基于多芯MT-FA的三维光子互连方案

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通过对三维模型数据进行优化编码,可以进一步降低数据大小,提高传输效率。优化编码可以采用多种技术,如网格简化、纹理压缩、数据压缩等。这些技术能够在保证模型质量的前提下,有效减少数据大小,降低传输成本。三维设计支持多种通信协议,如TCP/IP、UDP等。根据不同的应用场景和网络条件,可以选择合适的通信协议进行数据传输。这种多协议支持的能力使得三维设计在复杂多变的网络环境中仍能保持高效的通信性能。三维设计通过支持多模式数据传输,明显提升了通信的灵活性。上海三维光子芯片多芯MT-FA光互连标准边缘计算设备升级,三维光子互连芯片推动终端数据处理能力大幅提升。

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多芯MT-FA光组件的三维芯片互连标准正成为光通信与集成电路交叉领域的关键技术规范。其重要在于通过高精度三维互连架构,实现多通道光信号与电信号的协同传输。在物理结构层面,该标准要求MT-FA组件的端面研磨角度需精确控制在42.5°±0.5°范围内,以确保全反射条件下光信号的低损耗耦合。配合低损耗MT插芯与亚微米级V槽定位技术,单通道插损可控制在0.2dB以下,通道间距误差不超过±0.5μm。这种设计使得800G光模块中16通道并行传输的串扰抑制比达到45dB以上,满足AI算力集群对数据传输完整性的严苛要求。三维互连的垂直维度则依赖硅通孔(TSV)或玻璃通孔(TGV)技术,其中TSV直径已从10μm向1μm量级突破,深宽比提升至20:1,配合原子层沉积(ALD)工艺形成的共形绝缘层,有效解决了微孔电镀填充的均匀性问题。实验数据显示,采用0.9μm间距TSV阵列的芯片堆叠,互连密度较传统方案提升3个数量级,通信速度突破10Tbps,能源效率优化至20倍,为高密度计算提供了物理层支撑。

在AI算力与超高速光通信的双重驱动下,多芯MT-FA光组件与三维芯片互连技术的融合正成为突破系统性能瓶颈的关键路径。作为光模块的重要器件,MT-FA通过精密研磨工艺将光纤阵列端面加工为特定角度,结合低损耗MT插芯实现多路光信号的并行传输。其技术优势体现在三维互连的紧凑性与高效性上:在垂直方向,MT-FA的微米级通道间距与硅通孔(TSV)技术形成互补,TSV通过深硅刻蚀、原子层沉积(ALD)绝缘层及电镀铜填充,实现芯片堆叠层间的垂直导电,而MT-FA则通过光纤阵列的并行连接将光信号直接耦合至芯片光接口,缩短了光-电-光转换的路径;在水平方向,再布线层(RDL)技术进一步扩展了互连密度,使得MT-FA组件能够与逻辑芯片、存储器等异质集成,形成高带宽、低延迟的光电混合系统。以800G光模块为例,MT-FA的12芯并行传输可将单通道速率提升至66.7Gbps,配合TSV实现的3D堆叠内存,使系统带宽密度较传统2D封装提升近2个数量级,同时功耗降低30%以上。三维光子互连芯片支持多波长信号传输,进一步拓展数据传输容量上限。

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多芯MT-FA光组件三维芯片耦合技术作为光通信领域的前沿突破,其重要在于通过垂直堆叠与高精度互连实现光信号的高效传输。该技术以多芯光纤阵列(MT-FA)为基础,结合三维集成工艺,将光纤阵列与光芯片在垂直方向进行精密对准,突破了传统二维平面耦合的物理限制。在光模块向800G/1.6T速率演进的过程中,三维耦合技术通过TSV(硅通孔)或微凸点互连,将多路光信号从水平方向转向垂直方向传输,明显提升了单位面积内的光通道密度。例如,采用42.5°端面研磨工艺的MT-FA组件,可通过全反射原理将光信号转向90°,直接耦合至垂直堆叠的硅光芯片表面,这种设计使单模块的光通道数从传统的12芯提升至24芯甚至48芯,同时将耦合损耗控制在0.35dB以内,满足AI算力对低时延、高可靠性的严苛要求。此外,三维耦合技术通过优化热管理方案,如引入微型热沉或液冷通道,有效解决了高密度堆叠导致的热积聚问题,确保光模块在长时间高负荷运行下的稳定性。海洋探测设备中,三维光子互连芯片以高耐腐蚀性适应水下复杂工作环境。上海基于多芯MT-FA的三维光子互连方案

三维光子互连芯片的高速数据传输能力使得其能够实时传输和处理成像数据。上海基于多芯MT-FA的三维光子互连方案

标准化进程的推进,需解决三维多芯MT-FA在材料、工艺与测试环节的技术协同难题。在材料层面,全石英基板与耐高温环氧树脂的复合应用,使光连接组件能适应-40℃至85℃的宽温工作环境,同时降低热膨胀系数差异导致的应力开裂风险。工艺方面,高精度研磨技术将光纤端面角度控制在42.5°±0.5°范围内,配合低损耗MT插芯的镀膜处理,使反射率优于-55dB,满足高速信号传输的抗干扰需求。测试标准则聚焦于多通道同步监测,通过引入光学频域反射计(OFDR),可实时检测48芯通道的插损、回损及偏振依赖损耗(PDL),确保每一路光信号的传输质量。当前,行业正推动建立覆盖设计、制造、验收的全链条标准体系,例如规定三维MT-FA的垂直堆叠层间对齐误差需小于1μm,以避免通道间串扰。这些标准的实施,将加速光模块从400G向1.6T及更高速率的迭代,同时推动三维光子芯片在超级计算机、6G通信等领域的规模化应用。上海基于多芯MT-FA的三维光子互连方案

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